Hallo,
ich bin relativ neu in der TIA Welt und mit SCL unterwegs, daher verzeiht mir meine evtl. ungenaue Ausdrucksweise.
Wir Stellen gerade von S7 Classic V5.5 auf TIA V14 um und testen gerade wie wir unsere alten AWL/FUP Funktionen in SCL umsetzen können.
Hier mein aktuelles Problem:
Wir haben einen Datenbaustein mit 6 Strukturen(Jeweils gefüllt mit Störungen als einzelne Bits).
Jetzt wollen wir erkennen/auswerten wenn sich ein Bit in der Struktur auf 1 ändert.
Im AWL gibt es dafür den Befehl CompType mit dem wir zwei Strukturen miteinander Vergleichen können und ein Ergebnis rausbekommen.
Gibt es etwas ähnliches auch für SCL?
Oder muss man alles Wortweise durchschleifen und Vergleichen?
Grüße und schönes Wochenende
Der SCL_Nubie
ich bin relativ neu in der TIA Welt und mit SCL unterwegs, daher verzeiht mir meine evtl. ungenaue Ausdrucksweise.
Wir Stellen gerade von S7 Classic V5.5 auf TIA V14 um und testen gerade wie wir unsere alten AWL/FUP Funktionen in SCL umsetzen können.
Hier mein aktuelles Problem:
Wir haben einen Datenbaustein mit 6 Strukturen(Jeweils gefüllt mit Störungen als einzelne Bits).
Jetzt wollen wir erkennen/auswerten wenn sich ein Bit in der Struktur auf 1 ändert.
Im AWL gibt es dafür den Befehl CompType mit dem wir zwei Strukturen miteinander Vergleichen können und ein Ergebnis rausbekommen.
Gibt es etwas ähnliches auch für SCL?
Oder muss man alles Wortweise durchschleifen und Vergleichen?
Grüße und schönes Wochenende
Der SCL_Nubie